Ausgabe September 2018

elektronik industrie 09/2018

Coverstory von WDI: Polymer-/Hybrid-Kondensatoren, Märkte + Technologien, Leistungselektronik, Bahnelektronik, Messtechnik, Aktive Bauelemente

  • Leistungselektronik: Hochleistungs-Kaskodenbausteine aus Si-MOSFET und SiC-JFET
  • Bahnelektronik: Geprüfte Railway Power für zuverlässige und innovative Stromversorgungen
  • Messtechnik: Embedded-Diagnostic-System ermöglicht Test mit Microcontrollern

Inhalt

Märkte + Technologien

  • Top 5
  • „Wir sehen uns als kleine, schnelle Eingreiftruppe“: Interview mit Dr. Ingo Ramesohl, Geschäftsführer Robert Bosch Venture Capital
  • News und Meldungen
  • News Distributoren

Coverstory

  •  Polymer- und Hybrid-Polymer-Kondensatoren: Für die Anforderungen von heute und morgen

Leistungselektronik

  • Den Kurzschlussfall beherrschen: Gatetreiber für die Kurzschlussfestigkeit von SiC-MOSFETs auslegen
  • Herausforderung: Service Roboter: Power-MOSFETs und Gehäusetechnologien bieten hohe Leistungsfähigkeit
  • GaNz einfach, GaNz schnell: WBG-Leistungsschalter für die effiziente Leistungsumwandlung
  • Ein starkes Gespann in der Leistungselektronik: Kaskodenbausteine aus Si-MOSFET und SiC-JFET

Bahnelektronik

  • Highlights: Powerbox, Recom, Hummel, MEN, TE Connectivity, Syslogic, Konmed, Althen Sensors Controls
  • Geprüfte Railway Power: Zuverlässige und innovative Stromversorgungen
  • Highlight: Inotec
  • Was ist der bessere Weg?: Brick- oder Plug-and-Play-Lösung

Messtechnik

  • Testmöglichkeiten erweitert: Reverse Engineering und Flying-Prober-Plattformen
  • Interaktives Debugging in Multi-Domain-Umgebungen: Beispiel Internet-of-Things-Anwendungen
  • Testmöglichkeiten mit Mikrocontrollern: Embedded-Diagnostic-System
  • Highlights: Measurement Computing, Tektronix
  • Differential Absorption Lidar: Umweltverschmutzung in der Atmosphäre auf der Spur

Aktive Bauelemente

  • Fehler leicht erkennen: Intelligente Störmelder mit Mikrocontrollern in Verteilnetzen
  • Schutz vor IP-Diebstahl und Klonen: Authentification Flash schließt Sicherheitslücke bei NOR-Flash-ICs
powered by all-electronics.de