Ausgabe November 2017

elektronik industrie 11/2017

Coverstory von EBV Elektronik: Einfacher in das IoT einsteigen, Märkte + Technologien, Embedded-Systeme, Industrie 4.0, Modulare Messtechnik, Optoelektronik, electronics insight

  • Embedded-Systeme: Drei Ebenen für die IoT- und Embedded-Sicherheit
  • Messtechnik: Verbesserte PCIe 16-Bit-Digitizer – kleiner, schneller, besser
  • Optoelektronik: GaN auf Silizium, eine neue Art von Mid-Power-Leuchtdioden

Inhalt

Märkte + Technologien

  • Top 5
  • News und Meldungen
  • Medizin-Elektronik-Kongress 2017: Fortschritte in der Medizinelektronik
  • News von Distributoren
  • In Minnesota verwurzelt, in der Welt zuhause: Wie ein Distributor eine Kleinstadt im Mittleren Westen der USA prägt

Coverstory

  • Vielseitig vwie Herakles: 2G-Prepaid-Modul für schnelle IoT-Produktentwicklung

Embedded-Systeme

  • IPCs für die Digital-Signage-Branche: Maßgeschneiderte Industrie-PCs
  • Drei Ebenen für IoT- und Embedded-Sicherheit: Schutz vor Endgeräten im Industrie-Umfeld
  • Konsequente Automatisierung: Kosteneffektive Modul- und Integrationstests gemäß ISO 26262
  • Smarte Busse: Besser reisen mit Cloud-Anbindung: ARM-basiertes Edge Computing im öffentlichen Personenverkehr
  • Trägersubstrat mit integriertem ESD-Schutz: Keramischer Wafer ist ein idealer LED-Träger
  • Änderungen in Echtzeit erfassen: Online-Schätzung für die Fehlererkennung in einem Gleichstrommotor

Industrie 4.0

  • Damit der Funke überspringt: Die Chancen des Industrial Internet of Things ergreifen
  • Warum Datensicherheit auch in der Industrie so wichtig ist: Industrie 4.0 funktioniert nur mit Security
  • Bestmöglicher Schutz: Intelligent, vernetzt und trotzdem sicher im IoT
  • Smarte Technologien kundenorientiert einsetzen: Mit Digitalisierung Produktionsdaten, Kapazitäten und Logistik fest im Griff

Modulare Messtechnik

  • Ströme messen mit innovativen Sensoren: Über das Magnetfeld der Leitung den Strom messen
  • Höherer Automatisierungsgrad beim Steuergerätetest: Moderne Fehlersimulationstests ermöglichen kürzere Testzeiten
  • Defekte im Atomgitter von Diamanten messen: AWG steuert Atomphysik-Experimente an der Universität Stuttgart
  • Nächste Generation 16-Bit-Digitizer: Kleiner, schneller, besser
  • Koplanaritätsmessungen: Methoden zur Messung der Koplanarität von Embedded-Komponenten
  • Einfach zu handhaben: Flexibles Testsystem für Bluetooth-Low-Energy-Produkte
  • Aktoren-basiertes Zellen-Testsystem: Framework für Entwicklung von Batterien-Management-Systemen
  • Mit PXI/AXIe lassen sich Platz und Geld beim Test sparen: Wie erfolgt der Übergang zu einer modularen Testplattform?
  • VIP 2017 – Virtuelle Instrumente in der Praxis: Ein Rückblick und Ausblick auf die Trends in der modularen Messtechnik

Optoelektronik

  • Die Antwort ist GaN-on-Si: Eine neue Art Mid-Power-LEDs
  • 400G Ethernet setzt sich bei großen Datenvolumen durch: Parallel Optics Multimode meistert das Datenwachstum im Rechenzentrum
  • Starker Schutz: Wie LED-Systeme chemischen und physikalischen Einflüssen trotzen können

electronics insight

  • Schachcomputer Chess Buddy: Da rührt sich was auf dem Schachbrett

 

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